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Industry News
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012020-06場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)測試服務(wù)發(fā)布日期:2020-06-01場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FESEM)是電子顯微鏡的一種。該儀器具有超高分辨率,能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子像觀察及...
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012020-06高分辨透射電鏡TEM(JEM-2100F)測試服務(wù)發(fā)布日期:2020-06-01JEM-2100F場發(fā)射透射電鏡使用電子穿透樣品成像,實(shí)際上入射電子在穿越樣品時(shí)會與樣品發(fā)生復(fù)雜的相互作用,如果使用全部的透射電子...
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212020-05X射線衍射儀技術(shù)(XRD)發(fā)布日期:2020-05-21X射線衍射儀技術(shù)(XRD)是通過對樣品進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀...
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202020-05高分辨率透射電子顯微鏡TEM服務(wù)發(fā)布日期:2020-05-20透射電子顯微鏡(TEM)是一種高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡, 使用TEM可以觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu),甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)...