X射線衍射儀技術(XRD)是通過對樣品進行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內部原子或分子的結構或形態(tài)等信息的一種儀器，是研究物質的物相和晶體結構的主要方法，X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。
規(guī)格型號：D8 ADVANCE
生產廠家：BRUKER 布魯克
測試項目
1.物相定性分析
2.物相定量分析
3.精確測定點陣常數(shù)
4.晶粒大小及晶格畸變測定
XRD可解決的問題
1.當材料由多種結晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例;
2.很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度;
3.新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應用提供性能驗證指標;
4.產品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應力;
5.納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
應用領域
冶金、石油、化工、科研、航空航天、醫(yī)藥、材料生產等
送樣要求
可接收粉末、塊體和薄膜測試，不能含有鐵，具體要求如下：
1.粉末：過200目篩，樣品量不少于0.5g;極少量樣品可選無背景樣品臺;
2.塊體：被測面平整且盡量光滑，確保樣品能裝入φ25mm×3mm的樣品槽;
3.薄膜：若采用反射模式，尺寸要求同塊體;若選用透射模式，要求樣品有一定的柔韌性。
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