透射電子顯微鏡(TEM)是一種高分辨率、高放大倍數(shù)的顯微鏡, 使用TEM可以觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)。
規(guī)格型號(hào)：JEM-2100
生產(chǎn)廠家：日本電子株式會(huì)社(JEOL)
主要技術(shù)指標(biāo)
1.晶格分辨率：0.14nm，點(diǎn)分辨率：0.19nm;
2.加速電壓：80KV-200KV;
3.放大倍數(shù)：50-1500000.
4.元素分析范圍(Elements detectable)：B5-U92
服務(wù)內(nèi)容
1.材料的形貌、內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)和晶體缺陷的觀察;
2.物相鑒定，包括晶胞參數(shù)的電子衍射測(cè)定;
3.高分辨晶格和結(jié)構(gòu)像觀察;
4.納米微粒和微區(qū)的形態(tài)、大小及化學(xué)成分的點(diǎn)、線和面元素半定量和分布分析。
主要功能
1.質(zhì)厚襯度像;
2.選區(qū)電子衍射和微衍射;
3.衍射襯度明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像;
4.高分辨像;
5.晶體點(diǎn)陣類(lèi)型和點(diǎn)陣常數(shù)測(cè)定;
6.微小尺寸和形狀的檢測(cè);
7.電子能量散射譜分析等。
應(yīng)用范圍
TEM的優(yōu)質(zhì)性能使其成為生命科學(xué)、納米技術(shù)、醫(yī)學(xué)、物理學(xué)、生物學(xué)、制藥、半導(dǎo)體、材料科學(xué)等相關(guān)科學(xué)領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的重要觀察與分方法，可應(yīng)用于如癌癥研究、病毒學(xué)、材料科學(xué)、以及納米技術(shù)、半導(dǎo)體研究等方面，可提供樣品表面特征、形狀、大小、結(jié)構(gòu)、元素和復(fù)合結(jié)構(gòu)等，成為探索客觀物質(zhì)世界微觀結(jié)構(gòu)奧秘的強(qiáng)有力的手段。
樣品要求
非磁性的穩(wěn)定樣品，復(fù)型樣品，金屬、陶瓷和玻璃的塊體、薄膜和粉末等，更多檢測(cè)事項(xiàng)可與技術(shù)工程師聯(lián)系：400-850-6066
