特色項(xiàng)目
材料分析是指對(duì)材料的物理、化學(xué)、結(jié)構(gòu)和性能進(jìn)行研究和評(píng)估的過程。通過使用各種分析技術(shù)和儀器，可以深入了解材料的組成、結(jié)構(gòu)、特性以及與環(huán)境的相互關(guān)系。材料分析的目的是揭示材料的微觀和宏觀性質(zhì)，為材料的設(shè)計(jì)、加工、改進(jìn)和應(yīng)用提供必要的信息和指導(dǎo)。
| 檢測(cè)周期 ：3個(gè)工作日極速測(cè)試
| 提供服務(wù) ：整體課題打包、材料未知分析、材料數(shù)據(jù)解析服務(wù)
| 檢測(cè)費(fèi)用 ：根據(jù)客戶檢測(cè)需求以及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度進(jìn)行報(bào)價(jià)
金屬材料及其制品、塑料和橡膠材料、電子和半導(dǎo)體材料、復(fù)合材料、納米材料和生物材料及其他各領(lǐng)域所需材料。
類別 | 測(cè)試項(xiàng)目 | 主要設(shè)備 |
成分含量 | 熱重分析 | 熱重分析儀TG |
受熱物理性能 | 同步熱分析-紅外-氣質(zhì)聯(lián)用儀 | |
結(jié)構(gòu)組成 | 物質(zhì)定性 | 拉曼光譜儀 |
鑒別晶型 | 拉曼光譜儀 | |
TPR、TPD | 化學(xué)吸附儀TPR/TPD/TPO | |
物理吸附性能 | 物理吸附儀BET | |
表面形貌，厚度，粗糙度 | 原子力顯微鏡AFM | |
全譜窄譜測(cè)試、俄歇譜、價(jià)帶譜、深度濺射、 MAPPING、角分辨、元素的價(jià)態(tài)及半定量 | X射線光電子能譜儀XPS | |
晶體結(jié)構(gòu)，分子式以及結(jié)構(gòu)式 | 單晶衍射儀XRD | |
晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力 | X射線衍射儀 | |
納米尺度上的幾何結(jié)構(gòu) | 小角廣角X射線散射儀 | |
成分、結(jié)構(gòu)定性 | ||
組織形貌類 | 形貌、能譜點(diǎn)掃、線掃、面掃 | |
形貌表征、能譜點(diǎn)掃、能譜線掃、面掃mapping、電子衍射 | ||
場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 |
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